蔡司Xradia Context microCT 顯微鏡是一種大視場，非破壞性3D X射線微型計算機斷層掃描系統。 借助強大的平臺和靈活的軟件控制源/探測器定位，您可以在完整的3D環(huán)境中對大型，重型(25 kg)和高樣本進行成像，以及具有高分辨率和細節(jié)的小樣本。
獲取完整的電子元件，大型原材料樣品或生物樣品的3D數據。
執(zhí)行非破壞性故障分析，以識別內部缺陷，而無需切割樣品或工件
表征和量化材料中的性能定義異質性，如孔隙率，裂縫，夾雜物，缺陷或多相。
通過非原位處理或原位樣品操作進行4D進化研究。
連接到蔡司相關顯微鏡環(huán)境并執(zhí)行非破壞性3D成像，以識別感興趣的區(qū)域，用于隨后的高分辨率2D或3D電子顯微鏡成像。
全位三維成像
高像素密度探測器(六百萬像素)使您能夠在完整的3D環(huán)境中解析精細細節(jié)，即使在相對較大的成像體積內也是如此。 或者使用小樣本*大化幾何放大率，以識別和表征具有高對比度和清晰度的微米級結構。 快速的樣品安裝和校準，簡化的采集工作流程，快速曝光時間和數據重建以及可選的自動加載器系統使Xradia Context成為高吞吐量的主力，可滿足各種3D成像和表征需求。
基于成熟的xradia平臺
蔡司Xradia Context microCT 顯微鏡建立在經過時間考驗和備受推崇的Xradia技術之上，在現場反復證明可提供一致可靠的系統穩(wěn)定性，圖像質量和可用性。 用戶友好的Scout-and-Scan控制系統為您提供高效的工作流程環(huán)境。 使用Autoloader擴展您的系統，自動處理和順序掃描多達14個樣品。 或者進行4D研究以測量在不同條件下材料微觀結構的變化。
可轉換為X射線顯微鏡(XRM)
隨著您的成像需求的發(fā)展，您的儀器也應如此。 Xradia Context現在加入了蔡司X射線成像產品組合，受益于蔡司不斷致力于擴展其現場系統的功能和功能。 并且提供有保障的投資保護，您的Xradia Context microCT是可以隨時轉換為蔡司Xradia 5XX Versa 3D X射線顯微鏡(XRM)的microCT，該儀器為實驗室X射線成像樹立了新標準 其高工作距離(RaaD)技術的高分辨率和先進的采集和對比方法。
